仪器用途：ST2263半导体与微电子材料方阻测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试材料方块电阻的智能化综合测量仪器。双电测优势：利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

仪器用途：ST2253A半导体与微电子材料方阻测试仪是是运用四探针测量原理测试导体、半导体材料方块电阻的多用途综合测量仪器。应用场景：适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、晶圆制造厂、柔性电子/透明导电膜厂、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。  

仪器用途：ST2258C半导体与微电子材料方阻测试仪是是运用四探针测量原理测试导体、半导体材料方块电阻的多用途综合测量仪器。应用场景：适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、晶圆制造厂、柔性电子/透明导电膜厂、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。  

仪器用途：M-3半导体与微电子材料方阻测试仪是运用四探针测量原理测试导体、半导体材料方阻的多用途综合测量仪器。应用场景：适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、晶圆制造厂、柔性电子/透明导电膜厂、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。