ST2258C型石墨碳素四探针测试仪是运用四探针测量原理测试石墨碳素材料电阻率的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国A.S.T.M标准。

ST2242手持式交流四探针测试仪是专为不适用直流四探针法测试的样品，主要是离子导电物质（如电解质溶液、导电凝胶）和导电粉体悬浊液（如碳粉、石墨烯粉体浆料）设计的电阻率测试仪器。采用新型数字及微处理技术，精密4线法、简易2线法测量电阻率或电阻。具有独特的抗干扰能力和环境适应能力，重复测试一致性好，确保长年测量的高精度、高稳定性和高可靠性。其广泛应用于科研单位、高等院校对凝胶、溶液、离子导电材料以及不适用于直流测试样品的导电性能的测试。

ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国A.S.T.M标准。

 M3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器,标准配置由M-3型主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台当台式机使用.该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国A.S.T.M标准。

ST2263型双电测数字式四探针测试仪是运用测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。带电脑软件，可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国A.S.T.M标准。

仪器用途：ST2263玻璃与涂层材料四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试材料电阻率/方块电阻的智能化综合测量仪器。双电测优势：利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

仪器用途：ST2253A玻璃与涂层材料四探针测试仪是是运用四探针测量原理测试导体、半导体材料电阻率/方块电阻的多用途综合测量仪器。应用场景：适用于镀膜玻璃制造企业、显示与触控面板企业、光伏玻璃与新能源企业、纳米涂层企业、光学元件厂，科研机构与高校等四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。  

仪器用途：ST2258C玻璃与涂层材料四探针测试仪是是运用四探针测量原理测试导体、半导体材料电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。应用场景：适用于镀膜玻璃制造企业、显示与触控面板企业、光伏玻璃与新能源企业、纳米涂层企业、光学元件厂，科研机构与高校等四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。  

仪器用途：M-3玻璃与涂层材料四探针测试仪是运用四探针测量原理测试导体、半导体材料导电性能的多用途综合测量仪器。应用场景：适用于镀膜玻璃制造企业、显示与触控面板企业、光伏玻璃与新能源企业、纳米涂层企业、光学元件厂，科研机构与高校等四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。  

仪器用途：ST2263金属与合金材料四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试材料电阻率/方块电阻的智能化综合测量仪器。双电测优势：利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。